AI 비전 품질검사 — 0.1초 만에 불량을 잡아내는 기계의 눈
반도체 웨이퍼의 결함은 나노미터 단위이며, 인간의 눈으로는 발견이 불가능하다. KLA Corporation 등의 AI 비전 검사 시스템은 웨이퍼 표면을 고해상도로 스캔해 나노 수준의 결함을 0.1초 이내에 자동으로 탐지한다.
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반도체 웨이퍼의 결함은 나노미터 단위이며, 인간의 눈으로는 발견이 불가능하다. KLA Corporation 등의 AI 비전 검사 시스템은 웨이퍼 표면을 고해상도로 스캔해 나노 수준의 결함을 0.1초 이내에 자동으로 탐지한다.